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广州标旗光电科技发展股份有限公司
A3馆
G05
展区
光电检测与计量展区
主营产品
标旗光电的主营产品是光谱分析仪器,具有快速、无损、原位检测的特点,提供光谱快速检测方案解决细分行业检测难题,定制开发光谱分析仪。针对滤光片、波片、激光雷达、透镜等光学元器件的透过率、反射率、相位差等参数的质量把控,开发了光学元件系列产品:光学元件光谱分析仪、多角度光学元件光谱分选仪、反射率光谱分析仪、透过率光谱分析仪、透过率光谱分选仪、肉厚光谱分析仪、膜厚测量仪以及角分辨光谱分析仪等产品。其中Planum-3000光学元件光谱分析仪实现了小样品多角度透/反射率的快速测量,是细分行业“补短板”设备,大幅提高了行业的品控质量和效率。Sphere-3000反射率光谱分析仪,可对曲面光学元件的单面反射率进行快速测量,有效实现了国产替代。TMS-Pro透光率光谱分析仪能快速准确测量各类手机及Pad面板的透过率,可用于同一面板多个小孔测量,单次测量小于1秒,最小测量孔径达0.2mm,实时显示单点/多点透过率及各类测量数据。AM-360光学元件光谱分选仪可根据不同样品自定义进行多⻆度的透过、反射、偏光等批量测试,高速实现多点多角度的透/反射率检测,还可对检测结果进行快速质检和分级,极大提高检测效率。
公司简介
广州标旗光电科技发展股份有限公司成立于2005年,广州开发区创业领军人才创办企业,是一家专注于光谱快速检测系统集成和仪器开发的国家级专精特新“小巨人”企业。公司集设计、研发、制造、销售、售后服务等为一体,以光谱快速检测分析技术为核心,通过对光谱数据高速采集、处理和算法分析,为不同行业提供快速、无损、在线、全自动检测设备及高端质检与分析解决方案。企业已建成广东省光谱快速测量工程技术研究中心,产品覆盖光学元件检测、珠宝检测、LED分色分光、半导体、新能源、环境监测、食品安全、新材料、生物、光电、化工等众多领域。依托强大的自主研发实力、自主示范性多元化经营优势,公司近年来得到了高速发展,是国内光谱快速检测应用行业的领先者。获得了国家级专精特新“小巨人”企业、国家级高新技术企业、广东省专精特新企业、广东省知识产权示范企业、广州开发区瞪羚企业等众多资质荣誉。 标旗光电在“慎思·笃行·创新·共赢”的企业核心价值观引领下,不断沉淀,打造国产自主品牌,开发了适合不同应用领域的光谱快速检测分析仪。包括光学元件检测行业:光学元件光谱分选仪、反射率光谱分析仪、透过率光谱分析仪等;珠宝鉴定行业:紫外可见光谱分析仪(珠宝检测仪)、珠宝发光成像分析仪等;科研领域:量子效率光谱分析系统、便携式拉曼光谱仪、光致发光光谱仪等。标旗光电光谱分析仪优势显著,具有高效、迅速、准确等特点,可帮助用户大幅提升检测效率,助力应用行业高质量发展。科技的发展日新月异,标旗光电将紧跟科技进步与时代发展的步伐,在光谱快速检测道路上砥砺前行,臻于至善。
产品
Planum-3000 光学元件光谱分析仪
产品介绍: Planum-3000光学元件光谱分析仪⽤于快速测量各类平⾯光学元件的反射、透射光谱,可进⾏多⻆度绝对反射率、相对反射率、透射率测量,偏振光(S、P、(S+P)/2 )测量,颜⾊测量等。 仪器特点: 1.可快速测量任意⻆度绝对反射率、透过率。 2.样品检测范围⼴,实时导出样品数据及CIE颜⾊值。 3.光学⽆损检测,检测速度极快,毫秒级。 测量对象:棱镜、镀膜镜、滤光片、平行面板、红外截止片、偏振片等。 检测范围:380-1700nm;波长分辨率:1nm;角度分辨率<0.0002 °;重复定位精度<0.005°;旋转最⼤速度:25°/s;透射测量⻆度:0~80 ° (小样品0~50 ° );S/P光测量:⽆/电动 可选;样品尺寸:Φ3mm~Φ100mm。
Sphere-3000 反射率光谱分析仪
产品介绍: Sphere—3000 反射率光谱分析仪,能快速准确地测量各类球⾯/⾮球⾯器件的相对/绝对反射率,适⽤于凸透镜、凹透镜、镜 ⽚等的镀膜表⾯反射率测量,还可进⾏有⼲涉条纹的单层膜厚或折射率测量,可应⽤于硅晶太阳能电池板纳⽶级膜厚检测。 仪器特点: 1.消除背⾯反射光,⽆需进⾏背⾯防反射处理即可快速准确地测定表⾯反射率。 2.CIE颜⾊测定X Y⾊度图,x,y,L,a,b,饱和度,主波⻓等。 3.显微测定微小区域的反射率,物镜对焦于被测物微小区域( φ60 μm )。 测量对象:凸透镜、凹透镜、镀膜镜头、太阳镜、镀膜片、太阳能电池板等。 检测范围:380-1700nm;波长分辨率:1nm;单次测量时间<1s;样品尺寸:直径>1mm,厚度>1mm(使⽤10x对物镜时) 、厚度>0.5mm(使⽤20x对物镜时) 、厚度>0.1mm(使⽤50x对物镜时)。
TMS 透过率光谱分析仪
产品介绍: TMS透过率光谱分析仪能快速准确地测量各类平⾯、球⾯、⾮球⾯等光学元件的透过率,可⽤于实时显⽰单、多点波⻓透过率数据及指定波段平均透过率数据。适⽤于⼿机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜胶合镜、平⾏平板、太阳膜、滤光⽚等平⾯、球⾯⾮球⾯光学元件及组合镜头等的检测。 仪器特点: 1.球⾯、⾮球⾯、塑料制品散透射等测量。 2.测试速度极快,眼秒出结果,实现产品全检。 3.极小样品的透过率检测。 测量对象:手机面板IR孔,光学元件,太阳镜,漫、散射塑料片,镀膜镜头等。 检测范围:380-1700nm;波长分辨率:1nm;单次测量时间<1s;样品尺寸≥Φ1.5mm (显微:≥0.8mm);光斑可调,≥Φ0.6mm(显微≥0.3mm)。
TMS-PRO 透过率光谱分析仪
产品介绍: TMS-PRO能快速准确地测量各类⼿机及Pad⾯板的透过率,可⽤于同⼀⾯板多个小孔测量,实时显⽰单、多点波⻓透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显⽰半透波⻓及透过率等。 仪器特点: 1.最小测量孔径可达φ0.2mm; 2.可对多孔进⾏快速测量。 3.采⽤⼤⻆度采集全穿透式测量。 4.⾼性能探测器,单次测量小于眼 秒,重复性⾼。 5.采⽤数字视频对焦,使微小区域实现精准测量。 6.⾃定义测量⽅案与判定标准,⾃动判定“OK”和“NG”。 7.实时显⽰透射率数据及半透波⻓检测,可对批量样品谱图对⽐分析。 测量对象:⼿机⾯板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯透过率测量;弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平⾏平板透过率测量;太阳膜、滤光⽚光学元件透光测量。
TMS-320 透过率光谱分选仪
产品介绍: TMS-320是⼀台光学元件样品透过率批量测试设备,⾼精度电动位移平台⼤幅提升了样品测试速度,可⾃定义样品测量区域,并记录数据实现样品多孔/多点透过率⾃动测量,适⽤于⼿机⾯板的多孔测试、阵列滤光⽚的⾼通量测试、镀膜滤光⽚的质检、分级和均匀性检测。 仪器特点: 1.单点检测速度快,毫秒级; 2.毫⽶级小样品检测; 3.超⼤⾏程(可定制)、⽀持样品⼤批量全检; 4.可对样品进⾏质检、分级。 测试对象:AR/IR⽚、阵列滤光⽚、镀膜镜头、阵列红外截⽌⽚、晶圆滤光⽚等。 波长检测范围:380-1700 nm;测量光束直径:1-2.5mm可选;最大测量尺寸:350mm*350mm;检测速度<1s/点或<2s/点;运动分辨率:1um;重复定位精度:±0.0025mm;最⼤运⾏速度:1000mm/s。
AM-360 光学元件光谱分选仪
产品介绍: AM-360 是⼀台平⾯光学元件多点多⻆度透/反射率⾃动检测设备。可以根据每种样品⾃定义设置的测试模板进⾏多⻆度透过、反射、偏光等批量测试,⼀次性完成全部测试;样品载运平台载运速度快,精度⾼,⾼速实现样品多点多⻆度的透/反射率检测,还可对结果进⾏快速质检和分级,极⼤提⾼检测效率。 仪器特点: 1.⽀持小样品检测。 2.⽀持偏振光测量。 3.可⾃定义测量位置。 4.快速、⽆损、⾃动检测。 5.⽀持阵列式或⼤样品分点全检。 6.料盘尺⼨可定制。 7.⽀持测量绝对反射率、相对反射率、绝对透过率、相对透过率。 8.⼀键测量出结果,可定制报表输出格式。 测试对象:AR/IR⽚、阵列滤光⽚、阵列红外截⽌⽚、晶圆滤光⽚、晶圆等。 检测范围:380-1600nm;检测⻆度:反射⻆度8°~60 °、透过⻆度0°~60 °;波长精度:优于1.6nm;偏振光测量:S光 / P光 /(S+P)/2 光 / N光,可⾃动寻找偏振通光轴;光斑:直径φ1/φ2mm可切换;最大测量尺寸:360*360mm 可根据需求定制料盘;运动分辨率:1um;重复定位精度:±0.0025mm;最⼤运动速度:1000mm/s。
FTM 薄膜厚度光谱测量仪
产品介绍: FTM薄膜厚度光谱测量仪通过薄膜表⾯与基底材料反射光⼲涉现象,可快速⽆损测量薄膜的厚度,膜厚测量范围为1nm~1mm,待测材料主要有PET、氧化物、氮化物和保护膜层等,通常这些覆膜的基底材料包括硅晶⽚或玻璃等,还可测铜箔的厚度,⼴泛应⽤于半导体、⼯业⽣产中。 仪器特点: 1.测量准确度1nm。 2.膜厚测量范围1nm~1mm。 3.可分析单层或多层薄膜,最多可⾄6层薄膜。 4.测量速度快,精准度⾼,可在线监测。 5.⾮接触⽆损检测,不会损伤镀膜表⾯。 6.可拓展:⽀持在线测量项⽬开发。 测试对象:流延薄膜、铝塑薄膜、太阳能电池板、PET膜、铜箔等。 检测范围:220-1700nm;厚度范围:1nm~250um;测量时间:<1秒/测试点;层数:1~6层;⼊射⻆:90°;测量⽅式:反射/透射可选。
PDM-1100 相位差光谱分析仪
产品介绍: PDM-1100 相位差光谱分析仪是主要运用光谱技术对波片、激光雷达等光学元器件的相位差进行测量分析的仪器,为质量控制提供数据支撑。自主知识产权产品,可在0-70°之间自定义测量角度,具有检测速度快、操作方便、无损测量等特点。
ADMS 角分辨光谱分析仪
产品介绍: ADMS⻆分辨光谱分析仪是⼀款可变⻆度的透反射测量 光谱分析仪,可快速实现透射/透散射/漫反射/辐射/软件编译⾃ 由⻆度等多种光谱测量模式。适⽤于光⼦晶体/超导材料/超晶 格/漫反射等纳⽶光学材料的能带、缺陷等特性研究。在薄膜材 料/玻璃/光学元器件等⾏业均可采⽤ADMS⻆分辨光谱分析仪 实现光学元器件特定⻆度下透过/透散射/漫反射的过程控制测 量,可输出BRDF\BTDF分布函数。 仪器特点: 1.全⻆度测量; 2.超宽光谱范围光谱测量分析; 3.多种测量模式; 4.⾼精度智能电机调节; 5.⾃由编译测量,⾃动旋转批量测量; 6.样品x、y、z、俯仰、倾斜多维精细调节; 7.扩展性好:仪器可新增外部激光接口,可装载光学元件,丰富测量内容。 测量对象:光⼦晶体器件;朗伯体漫反射板;发光体;漫、散射塑料⽚;光栅等。
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