产品介绍:
Planum-3000光学元件光谱分析仪⽤于快速测量各类平⾯光学元件的反射、透射光谱,可进⾏多⻆度绝对反射率、相对反射率、透射率测量,偏振光(S、P、(S+P)/2 )测量,颜⾊测量等。
仪器特点:
1.可快速测量任意⻆度绝对反射率、透过率。
2.样品检测范围⼴,实时导出样品数据及CIE颜⾊值。
3.光学⽆损检测,检测速度极快,毫秒级。
测量对象:棱镜、镀膜镜、滤光片、平行面板、红外截止片、偏振片等。
检测范围:380-1700nm;波长分辨率:1nm;角度分辨率<0.0002 °;重复定位精度<0.005°;旋转最⼤速度:25°/s;透射测量⻆度:0~80 ° (小样品0~50 ° );S/P光测量:⽆/电动 可选;样品尺寸:Φ3mm~Φ100mm。